扫描式电子显微镜：      

扫描式电子显微镜是把聚焦的电子束加速打到样品表面，利用不同的探测器来收集二次电子、背散射电子、特征X射线等信号，来实现放大成像、尺寸量测、元素分析等功能。

产品图：

双束（SEM-FIB）电子显微镜：     

双束系统由场射电子枪和聚焦离子束两个主要部分组成，其中场发射电子枪主要用于观察、分析和记录材料表面的微观区域的形貌和结构，聚焦离子束主要用来对样品进行在纳微米尺度下的切割、研磨和沉积等加工。双束电镜可以用来做定位位置的加工，观察样品表面以下的结构，并且可以用来做TEM样品的制备。

透射式电子显微镜：      

 透射式电子显微镜因电子束穿透样品后，再用电子透镜成像放大而得名。它的光路与光学显微镜相仿，用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。透射电子显微镜可以对材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷进行研究。